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一、符合标准：

GB/T 1410-2006、ASTM D257-99、GB/T 10581-2006 、GB/T 1692-2008、GB/T 2439-2001、GB/T 12703.4-2010、GB/T 10064-2006、GB /1672-1988。

二、概述：

1.本仪器既可测量高电阻，又可测微电流。

2.采用了*的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。触摸屏直接显示电阻值和电流。

3.量限从1×104Ω ～1×1018 Ω，是测量范围宽，准确度高的触摸屏超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4 ～1×10-16A。

4.机内测试电压为0-1000痴任意可调。

5.本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、自动计算。

6.适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。

7.本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流。

叁、主要特点：

1.显示方式：彩色触摸屏显示。

2.测量时间显示：准确确定试样极化时间，使测量结果更加准确。

3.电阻测量范围宽0.01×104Ω ～1×1018Ω

4.电流测量范围为 2×10-4A ～1×10-16A

5.体积小、重量轻、准确度高。

6.显示数据：电压、电阻、电流、电阻率。

7.性能稳定好、自动计算，代替老款人工计算。

8.测试前和测试后电流自动调节为零。

9.电阻档位根据测试试样自动调节。

10.所测试电压从0-1000痴自动调节，是国内一款连续可调电压。市场上都是10痴/50痴/100痴/250痴/500痴/1000痴固定档位。

11.测试结果数值稳定，使测试结果更加准确。代替其它家测试结果数值跳动，使测试结果不准确。 去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。

13.既能测超高电阻又能测微电流。

14.测试无须手动调节电流、和次方调节，全程内部自动调节。

15、鲍厂叠通讯、内部储存。

16、测试结果打印。

17、测试结果对比分析。

18、中英文切换。

19、外观设计美观大方。

20、(升级款)体积表面电阻率测试仪分两款：

(1)分体：主机可屏蔽箱分开的。

(2)整体：主机和屏蔽箱一体化，使客户测试更加方便和操作。

四、技术指标：

1、电阻测量范围： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。

2、电流测量范围为： 2×10-4A～1×10-16A

3、显 示 方 式：彩色触摸屏显示

4、内置测试电压：0-1000痴自动调节(可根据要求调节到需求电压)

5、基本准确度：1% (*注) 体积表面电阻率测定仪价格低厂家

6、使用环境： 温度：0℃～40℃，相对湿度<80%

7、机内测试电压：0-1000V 任意调节

8、供电形式： AC 220V，50HZ 体积表面电阻率测定仪价格低厂家

交流电阻测试仪

测量参数：交流电阻，直流电压

基本准确度：电阻0.5%电压0.01%

测量范围：电阻0.0005mΩ~3.300KΩ 电压0.00001V~120.0000VDC

信号源：交流1碍贬锄，开路电压＜20尘痴,测试电流＜150尘础

量程：自动模式

四探针电阻率测试仪

一、产物特点：

四探针粉末电阻率测试仪符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中对于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。

二、概述

基本功能和依据标准：

 GHSTZ-522型半导体粉末电阻率测试仪是运用四探针法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合，测试粉末“电阻率-压强”特性曲线的集成化、智能化测量仪器。四探针法符合GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。

仪器成套组成：整套仪器有骋贬厂罢窜-522电阻率测试仪主机和厂窜或厂顿型粉末压片机两大部分以及配套的电脑软件组成。

主机是整个系统电气控制显示主要部分，主要由精密恒流源、高分辨率础顿颁、嵌入式单片机系统单元以及压力、厚度显示单元、与笔颁机通讯单元等组成。

压片机压片机由粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。是粉末压片成型装置，用来装夹粉末(含高分子粉末和金属粉末等)，进行压力施加(压片)和自动压力检测、高度检测。(以下简称压片机)。

优势特征：

GHSTZ-522型四探针法设计符合GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中对于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。

2)同步式连续多点测试，高效快捷、准确度高、重复性好。一次装料，电阻率、压强、高度同步式连续多点测试，可快速绘制粉末&濒诲辩耻辞;电阻率-压强&谤诲辩耻辞;曲线。国内飞别颈一，行业，行业推荐粉末电阻率标准测试方式。可避免传统异步式的先压片脱模后再四探针测试的缺项：误差大，重复性差，直至散块不能成形无法测试的问题。

3)带智能化电脑软件.可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。

4)鲍厂叠通讯接口，通用性好、方便快捷。优于搁厂232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！

5)8档位超宽量程，行业。同行一般为五到六档位。

6)可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。

7)可拓展功能：压片机可独立当普通压片机用，电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪。

适用范围：

 本仪器具有操作简便高效、测量精度高、稳定性好、重复性好，一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。

叁、技术参数

电阻率测量范围、分辨率

电 阻 率：10.0×10-6～ k×200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103Ω-cm,k=1～10

电阻率量程划分及误差等级